商品詳細

Product

INFINITE POSSIBILITIES

受託サービス(試験・評価・解析)

    • 受託サービス
    • 受託試験

メーカー名:沖エンジニアリング株式会社

概要

製造業サポート・信頼性評価試験を製造業のプロセス全領域に向けたサービスでご提供

特長

品質保証と秘密保持

OKIエンジニアリングは、サービスの品質保証と機密保持こそが信頼の基礎と考え、「ISO9001」および「ISO/IEC17025」の認定・認証を取得し、公正・中立で正確な信頼できるサービスを提供すると同時に、社内規程に基づき顧客資産や顧客情報の徹底した管理を行っていきます。

AC-BTI試験機

サービス開始!SiCパワー半導体固有の劣化モードを評価する

SiC MOSFETには、SiC MOSFETでは見られない固有の劣化モード(AC-BTI)が存在します。
これはスイッチング動作によりゲートにACストレスが加わることで、しきい値電圧がシフトする現象です。
しきい値電圧のシフトは、オン抵抗の変動につながり、電動者におけるEV航続距離に影響します。
本変動を評価するAC-BTI試験により、デバイスの信頼性確保や、部品選定および製品設計に必要な情報の取得をサポートします。

デバイス/モジュールの信頼性評価、電気的特性測定・評価

宇宙・防衛・自動車分野などで高い信頼性が要求される半導体部品やモジュールに関わる経験豊富な評価実績をもとに、信頼性試験の他、電気的特性測定、スクリーニング試験、LSIテストサービスをワンストップで提供します。

信頼性評価

・MIL、JEDEC、JEITA、AEC-Q等の規格に準拠した信頼性試験サービス
・次世代パワー半導体の総合評価サービス
・不揮発性メモリ(eMMC, SSD, SDカード, NVMe SSD)の信頼性評価サービス
・WLR(Wafer Level Reliability)評価サービス

電気的特性測定・評価

・LSIからパワー半導体まで広範囲の半導体部品に対応
・ベアチップに対応
・半導体部品の他、プローブピン(ポゴピン)等の電子部品に対応

スクリーニング試験

・MIL規格に準拠したスクリーニング試験の実施
・電子部品の市場流通品に対するスクリーニング(模倣品対策)の実施
・バーンイン試験の実施
・スクリーニング試験の詳細

LSIテスト

・小規模量産テストサービス
・開発品の評価から量産テスト時の立ち上げ支援に対応
・テストパターンが入手できない汎用デバイスのテストサービス
・ウェハテストに対応

ESD試験・TLP測定

お客様から「JEDEC規格のESD試験結果が欲しい」とか、「車載品のラッチアップ試験の実力評価を実施して欲しい」などの要求で、戸惑った経験はありませんか?OKIエンジニアリングでは、半導体デバイスに要求されるESD(静電破壊)試験とラッチアップ試験を提供しております。国内外の試験規格に精通した担当者が、お客様の製品に適用すべき最適な試験プランのご相談を承ります。

・ESD試験/ラッチアップ(Latch-up)試験/静電気イミュニティ試験
・組立工程のESD(静電気放電)対策

解析(故障/良品)・観察・分析

LSI・抵抗・コンデンサ・スイッチ・コネクタ・プリント回路基板等電子部品から電気部品・接点まで広範囲の解析(故障/良品)・観察・分析を実施しています。

・故障解析
・ロックイン赤外線発熱解析
・良品解析
・LSIプロセス診断
・DPA(破壊的物理解析)
・部品選定のための良品解析
・太陽電池の良品構造解析
・MEMSの良品構造解析
・電子機器の良品解析
・調達部品、代替部品選定時の品質、信頼性確保
・電子部品の真贋判定
・パッケージ接続強度評価
・観察・分析
・非破壊検査
・マイクロフォーカスX線CT・透過X線解析
・超音波探傷検査
・デキャップソリューション(樹脂開封)
・断面加工・観察
・走査型電子顕微鏡(SEM)解析サービス(SEM観察/SEM-EDS(EDX)元素分析)透過型電子顕微鏡(TEM)解析サービス(TEM観察/TEM-EDS(EDX)元素分析)

・気密封止パッケージ内水分・残留ガス分析(IVA分析)
・Cuワイヤデバイスの解析技術
・熱過渡特性解析(熱抵抗測定)
・熱過渡特性解析(熱抵抗測定)例
・LSI構造情報取得サービス(熱流体解析ソフト[FloTHERM ®]に使用するパラメータ取得)
・リチウムイオン二次電池解析
・リチウムイオン電池の焼損事故解析
・リチウムイオン電池の良品解析
・釘刺し・圧壊評価
・リチウムイオン電池の経年劣化安全性評価
・全固体電池の信頼性評価
・二次電池ガス分析
・LEDデバイス総合解析
・寸法測定
・オンライン立会解析

化学分析(RoHS・REACH・環境)

地球規模での環境破壊防止が要請される中で、環境に関わる大気分析、水質分析や環境基準に基づく各種測定を実施します。RoHS指令の規制6物質、REACH規則対応高懸念物質(SVHC)の分析での蛍光X線分析によるスクリーニングから精密分析まで、お客様のニーズに即した受託分析サービスを正確かつ迅速にご提供します。
またOKIエンジニアリングではサプライヤチェーンを介して含有化学物質 (chemSHERPA書式等)を代行収集するサービスも行っております。お客様の含有化学物質情報管理をワンストップでサポートいたします。

・有害物質分析(材料分析・組成分析)
・アウトガス分析・解析
・異物解析
・基板清浄度評価
・半導体製造ライン向け化学分析(微量分析)
・樹脂・材料解析
・環境分析
・その他の分析

電子部品の技術・環境情報調査代行

製品開発・設計および調達に必要な電子部品の技術・環境情報について、メーカー調査・データの取りまとめなどの業務を行います。お客様に代わり経験豊富なOKIエンジニアリングスタッフが情報を収集し、迅速・正確なデータをご提供いたします。
またサプライヤチェーンより環境情報が得られない場合、OKIエンジニアリングではスクリーニング分析、精密分析も行っております。お客様の含有化学物質情報管理をワンストップでサポートいたします。

・電子部品の情報調査代行サービス
・電子部品の情報支援サービス

環境システム技術

半導体製造排ガス処理装置、排水処理・回収再利用装置など工場ユーティリティに求められるものは、安定供給・安定稼動だけでなく、環境に配慮したユーティリティ設備である事が求められる時代になりました。OKIエンジニアリングでは工場から排出される水・ガスについてOKIエンジニアリングにてサンプリング・分析を行い、各工場にマッチした環境装置を設計・提案し、施工・メンテナンスまでサービス提供いたします。
半導体、太陽電池、その他の事業における高負荷・大流量な特殊排ガス(半導体材料ガス等)やリサイクル困難な排水処理、もしくは有価物回収や超純水設備など、さまざまな経験を基に時代に要求される新しい提案を行います。

・排ガス処理装置
・排水処理・回収再利用装置
・界面活性剤リサイクル装置
・水洗浄装置
・環境施設保全

信頼性評価試験、環境試験

OKIエンジニアリングは、各種電子部品(IC・チップコンデンサ・リレー・基板)やユニット・材料などの各種信頼性評価試験、電子部品の故障解析・分析を提供しており、50年の実績と経験で幅広くご利用いただいています。また、ISO/IEC17025に基づいた独立試験所として認定を取得しており、公正で中立な第三者の立場で評価・解析を行い国際的に通用するデータをご提供いたします。

EMC試験

EMC試験は、不要な電磁ノイズを出さないこと(エミッション)と、妨害を受けても決められた性能基準の中で耐えること(イミュニティ)を確認する試験です。20年以上にわたるEMC公的試験所サイト(ISO/IEC 17025)としての実績に基づき、民生機器、車載機器、医療機器、産業機器、鉄道機器等、幅広い分野でのEMC試験・評価を提供します。迅速・丁寧な試験サービスを提供しお客様の製品開発・量産前の評価をサポートいたします。詳細が決まっていない場合でも、お気軽にご相談ください。

国際規格「ISO/IEC17025:2017」のEMC認定試験所

・JAB(Japan Accreditation Board)
・FCC(Federal Communications Commission)
・VCCI試験所登録(15条)
・iNARTE-EMC Engineer資格取得者

計測器校正

・IATF16949(自動車業界向け規格)対応の校正
・UL対応校正証明書発行
・A2LA認定機関のシンボル付校正証明書発行
・引取(預かり)校正サービス
・出張校正サービス
・校正通知サービス
・検査成績書/校正証明書・トレーサビリティチャート(系統図)

※掲載製品は予告なく仕様変更や販売終了となる場合がございます。あらかじめご了承ください。
最新情報につきましては、都度お問い合わせくださいますようお願いいたします。

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