お悩みの方は、ぜひご相談ください

• 装置を購入するコストを抑えたい
• 専門家の知識・経験を活用したい
• 必要な時に必要な装置を利用したい
• 常に最新の仕様で装置を利用したい
• 自社リソース（人員・スペースなど）を節約したい

• 音・振動試験

  • 振動試験

  • 衝撃試験

• 化学分析

  • FT-IR（フーリエ変換赤外分光法）

  • ラマン分光法

  • IC（イオンクロマトグラフィー）

  • GC（ガスクロマトグラフィー）

  • GC-MS、GC-MS/MS（ガスクロマトグラフィー質量分析）

  • LC-MS、LC-MS/MS（液体クロマトグラフィー質量分析）

  • ICP-MS（誘導結合プラズマ質量分析）

  • ICP-AES（誘導結合プラズマ発光分光法）

  • HPLC（高速液体クロマトグラフ分析）

  • カールフィッシャー水分測定（電量滴定法）

  • NMR（核磁気共鳴）

• 環境試験

  • ヒートショック試験（冷熱衝撃試験）

  • ヒートサイクル試験（恒温恒湿試験）

  • 塩水噴霧試験

  • 耐水試験

  • スプラッシュウォーター衝撃試験

  • 曇り度測定（ヘーズメーター）

  • 耐候性試験

  • 耐湿信頼性試験

• 物性分析

  • コンタミ解析

  • FE-EPMA（電界放出型電子マイクロアナライザ）

  • XPS（X線光電子分光分析）

  • 走査型オージェ電子分光分析

  • XRF（蛍光X線分析）

  • XRD（X線回折測定）

  • 粘弾性測定

  • 熱拡散率、熱伝導率測定

  • 示差走査熱量測定（DSC）

  • スクラッチ試験

  • タッキング試験

  • 粉体ぬれ性試験機

• 電気・電子試験

  • 充放電試験

  • 電圧測定

  • インピーダンス測定

  • 周波数変動試験

  • 導電率測定

  • 誘電率測定

  • 絶縁抵抗試験

  • 絶縁破壊試験

  • 耐電圧試験

  • 大電流試験

  • 漏れ電流試験

  • アース導通試験

  • 静電気試験

  • EMC試験（ノイズ試験）

  • イーサネットコンプライアンステスト

• 観察・試料作製

  • SEM/TEM（走査/透過電子顕微鏡）

  • SEM-EBSD（結晶方位分布測定）

  • デジタルマイクロスコープ

  • 金属顕微鏡

  • 蛍光顕微鏡

  • FIB、FIB-SEM

  • CP加工（イオンミリング加工）

  • ミクロトーム加工

  • 切断・樹脂包埋・研磨

  • 蒸着・コーティング

• 材料試験

  • 引張試験

  • 圧縮試験

  • 硬さ試験

  • 疲労試験

  • 摩擦摩耗試験（トライボロジー試験）

  • クリープ試験

  • プル試験・シェア試験（接合強度試験）

• 非破壊解析

  • 超音波探傷

  • X線残留応力測定

• 形状寸法測定

  • 三次元寸法測定

  • ギヤ/歯車測定

  • レーザー顕微鏡

  • 画像測定

  • 3D形状測定

  • 表面性状測定

  • 輪郭形状測定

  • 表面粗さ測定

  • 真円度測定

  • X線CT検査

  • 3Dスキャナ測定