私たちは、試験機・計測器の専門商社です。

物質に任意の入射角でⅩ線を照射し、得られる回折現象で結晶構造解析を行うことが出来ます。アスベストや鉱物などの構造解析やタンパク質の研究のために使用される場合があります。薄膜の配向性や結晶のマッピング、内部歪による残留応力の測定などにも使用されています。最近は温度や湿度、ガス中などの任意環境下の測定も出来るようになりました。