取扱製品Product

物性分析

X線回折装置

物質に任意の入射角でⅩ線を照射し、得られる回折現象で結晶構造解析を行うことが出来ます。アスベストや鉱物などの構造解析やタンパク質の研究のために使用される場合があります。薄膜の配向性や結晶のマッピング、内部歪による残留応力の測定などにも使用されています。最近は温度や湿度、ガス中などの任意環境下の測定も出来るようになりました。

粒度分布/ゼータ電位測定装置

粒子の大きさに応じて分子量の測定やナノ粒子から、目視可能な粒子までの大きさ頻度分布を測定します。粒子表面の電位や分子間の作用などの評価もできます。

粘度計

物質の粘りの度合を測ります。製造工程において試料の粘度などのレオロジー特性を知る事で容器への注入性、塗料・インクなどの塗工性、クリームの使用感、 ディップコート時の塗膜厚などを予測することができます。粘度と製品の仕上がり、使用感には相関関係が多くある事が多くあります。

熱分析装置

熱刺激に対しておきる物質の重量変化(TGA)、分解や昇華結晶化による熱量変化(DSC・DTA)、機械特性(TMA)を測定して熱エネルギーに対する変化から熱量や組成、機械的特性を測定します。

蛍光X線分析装置

物質にⅩ線を照射すると、蛍光Ⅹ線が発生されます。その波長は元素ごとの波長を有していますので元素の分析を行うことが出来ます。ppm~%の金属元素の測定に使用し前処理も必要く比較的手軽に測定できるため、貴金属の確定や鉱物の鑑定にも使用されています。WEEE-RoHS指令の金属測定で多くの会社様に使用されています。