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蛍光X線分析装置

物質に一定以上のエネルギーを持つⅩ線を照射すると、物質中の原子の内殻電子が励起され、それによって生じた空孔に外殻電子が移る際に内殻と外殻のエネルギー差に対応した蛍光Ⅹ線が発生されます。その波長は元素ごとの波長を有していますので元素の分析を行うことが出来ます。ppm~%の金属元素の測定に使用し前処理も必要く比較的手軽に測定できるため、貴金属の確定や鉱物の鑑定にも使用されています。WEEE-RoHS指令の金属測定で多くの会社様に使用されています。