私たちは、試験機・計測器の専門商社です。

 

 

収差補正TEMの新たな用途を切り拓く

 

 

 

 

 

1、JEOL製ピクセル型STEM検出器

直接露光型のCCDを用いているため、読み出し速度が速く、

STEM像が高速で取得可能
・S/N比　      300：1
・量子効率　ほぼ100％でロードーズイメージングに最適
・TEM用の高速高感度直接露光カメラとしての機能有り

 2、他の検出器との同時装置

・ADF検出器(高角度散乱暗視野STEM検出器)と同時データ取得
・EELS(電子線エネルギー損失分光装置)の装着の妨げにならない

 3、高速STEM検出を実現

256×256画素のSTEM画像取得時間 
 ・  フルフレーム      264×264       pixels時：64秒　(1,000fps)
 ・ １×２ビニング    264×132        pixels時：32秒    (2,000fps)
 ・ １×４ビニング      264×44       pixels時：32秒　(4,000fps)

4、幅広いエネルギー領域に対応

電子線に敏感な試料にも最適な加速電圧で対応 
・低加速　30kV
・高加速　200ｋV～300ｋV   

5、最新鋭透過電子顕微鏡への装着可能

収差補正と高安定性を備え、4次元データの高安定な取得が可能 

  ※現時点で装着可能な機種：JEM-ARM200F　JEM-ARM300F
      JEM-F200に関しては、将来的に装着が可能

6、ソフトウェア

・検出器面上での所望領域から得られるSTEM像の合成可能
・各電子線位置におけるビームシフト量を計算し、電場・磁場の
    方向と強度を可視化